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Ace Tech Circuit > 제품소개 > Probe Card


Wafer 상에 각 Chip을 검사하기 위해 PCB 위에 Epoxy로 고정시킨 Probe를, Test 하고자 하는 Chip의 Pad에 접속시킨 후, Test System의 전기적 신호를 Chip상에 전해주는 Tool. ATE(Automatic Test Equipment)와 Wafer 사이에 전기적 신호를 전달해주는 핵심 역할을 담당


사양구분
단위
mm
inch
층 수
14~52
14~52
원자재
FR-4
FR-4 High Tg
FR-4
FR-4 High Tg
두께
4.8~6.5
0.19~0.26
패턴 폭
0.075
0.003
패턴 간격
0.1
0.004
최소 홀 사이즈
ø 0.30
ø 0.012
표면처리
(전해 Hard, 무전해 금도금)
1.3μm
50μ”
기타
HPL